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| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 能源,電子,電氣 |
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QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機
實現全自動化測試過程，滿足不同器件測試對測試機的要求。
本產品為IGBT、SiC等功率半導體器件提供全套功率測試解決方案，可高效實現從晶圓級到最終產品的ISO、DC、AC等全套測試，實現全自動化測試過程，并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測試對測試機的要求。
QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機產品特點
01測試范圍
AC測試：1500V/4000A，DC測試：2000V/2000A
02測試功能
接觸可靠性測試、ISO測試、DC測試、AC測試等
03測試對象
SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊，針對不同封裝定制測試治具
04測試過程
全自動化測試過程，自動生成數據報表
05回路雜感
<15nH，不含待測對象及socket
06保護功能
過流保護閾值可設置，保護時間<2us
07測試效率
UPH>200，具體依據實際測試對象及測試項目確定
08測試流程
可根據具體要求對測試功能模塊進行選擇和測試流程變更
09運行模式
可根據不同測試要求選擇各功能并行或者異步模式運行
供電電源電壓220V±10%(單相+PE)，50Hz±10%，10kW
測試對象SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊
測試項Kelvin，ISO，SW，SC，Qg，DC，RgCg ，UIS等
AC測試最大電壓電流1500V，多脈沖 4000A，短路12000A@10us
DC測試最大電壓電流2000V，2000A
UIS測試最大電壓電流3000V，200A
RgCg測試電壓Vds：1500Vmax，Vgs ：±40V
AC測試雜感＜15nH，不包含被測器件及socket
AC測試過流保護＜2us
測試效率UPH>200，具體依據實際測試對象及測試項目確定
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